爱立信AXE10设备时钟频偏处理方法

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爱立信AXE10设备时钟频偏处理方法

现象：

用NSSTP检查，发信啊所有外同步状态ABL状态。

用GDCVP检查，发现时钟同步范围远超出标准范围,OSCILLATOR=0约6万,OSCILLATOR=1在4万几左右(正常范围32000+7000）。

处理过程：

1、分别对各外同步源作NSBLI,NSTEI,NSBLE，测试结果FD=9900以上。（CLM的OSCILLATOR=0、1频偏）

   暂判断CGB晶振出问题。

2、观察GDCVP，两个CLM的 OSCILLATOR值都非常大而且接近，常理很难出现两个CGB同时坏掉的可能。

   闭塞CLM-1(CGB-1以及对应RP），与临局兑换CLM-1。

   临局解开CLM-1，结果正常，说明CLM板没坏。

  M426解开CLM的RP。观察GDCVP，发现CLM-1的晶振数值正常于32000+7000范围。（而CLM-0数值仍然异常）。

  M426继续解开CLM-1（GDBLE），发现CLM-1晶振马上跟上CLM-1数值，处于6万、4万这些非正常范围。

   怀疑CGB版间互相影响，并且是EX的CGB影响SB的引起。

3、闭塞CLM-1（CGB-1以及对应RP）。   强制闭塞CLM-0的RP（CLM-0处于CBL)。

   *当RP闭塞后GDCVP，两个CLM都停止工作，没任何晶振值。

   解开CLM-1的RP，GDCVP观察CLM-1在32000+7000左右。

   解开CLM-1（GDBLE）。并修复选组以及SNT（因为两个CLM都倒掉时，选组以及对应的SNT全部ABL）

   之后NSTEI:SDIP=3ETM2，MS=MS-0（CLM-1对应的IRB-1对应的同步源），测试正常。

   解开NSBLE:SDIP=3ETM2，MS=MS-0, 同步源EX（正常），GDCVP，CLM-1频偏正常，GDSTP，状态正常。

4、解蔽CLM-0的RP，并测试-解蔽CLM-0（GDTEI,GDBLE），GDCVP，CLM-0/1频偏都正常，GDSTP状态正常。

5、测试CLM-0对应的外同步源（EXT-0以及SDIP=0ETM2，MS=MS-0）正常，解开正常。

问题解决。